絶縁劣化評価試験器

HiPー1000/n

絶縁劣化評価試験器 HiPー1000/n

特長

特長1

MIGシリーズと同じ測定方式。IMVの最大の特長である1CH/1電源/1計測回路方式及び二重構造アクティブガードケーブルを採用し、高電圧印加を実現しました。

特長2

高電圧印加のため、誤作動防止のインターロックを装備。
インターロックを装備することにより、人為的なミスを防ぎます。

特長3

最大256CHまで増設可能。(1筐体:64CH) 1000V、500V印加でありながら、最大256CHまで増設可能です。

仕様

モデル HiP-1000/n HiP-500/n
印加電圧 +1000.0V +500.0V
チャンネル数 8CH~64CH(増設8CH毎)
最大増設可能チャンネル 64CH
絶縁抵抗測定範囲 105Ω~1014Ω
直流電流測定範囲及び測定レンジ 0.1pA~250μA(5測定レンジ) ※固定レンジ・オートレンジ選択可
0.1pA~5nA
100pA~500nA
1nA~5A
10nA~50μA
100nA~250μA
電流値測定精度
5nAレンジ :±5%±100pA
500nAレンジ :±3%±5nA
5μAレンジ :±2%±10nA
50μAレンジ :±1%±100nA
500μAレンジ :±1%±1μA(最大250μA)
注意)1000V印加時対レンジフルスケール
5nAレンジ :±5%±100pA
500nAレンジ :±3%±5nA
5μAレンジ :±2%±10nA
50μAレンジ :±1%±100nA
500μAレンジ :±1%±1μA(最大250μA)
注意)500V印加時対レンジフルスケール
バイアス印加方法 チャンネル独立バイアス方式(1パワーサプライ→1CH)
バイアス印加電圧設定
(0.1V単位任意)
+1.0V~+999.9V(グループ[8CH]単位) +1.0V~+500.0V(グループ[8CH]単位)
バイアス印加電圧レンジ 1000V 500V
バイアス印加アンプ オペアンプ方式
出力ノイズ:最大±5mV
高圧アンプ安定化電源として直列型高圧安定化電源を採用
高圧オペアンプによる100μsecオーダーの高速レスポンス
バイアス印加電圧精度 ±( フルスケールの0.5%±1V)
バイアス電圧測定精度 ±( フルスケールの0.5%±1V)
最大試験可能時間 9,999時間
測定方法 全チャンネルダイレクト測定(メカニカル・リレーは使用していません)
高速16ビットA/Dコンバータ
測定回路 絶縁抵抗方式
電流測定ケーブル 二重構造アクティブガードケーブル
ケーブルオープン検出機能 計測/出力ケーブルのコネクター脱落を検出しアラーム警告
収録データ内容 収録時間・経過時間・抵抗値・電流値・印加電圧・温度/湿度(要チャンバー通信オプション)
パソコン OS:WindowsXP(Windows7対応予定)産業用を推奨
マイグレーション測定モード

エンドモード : マイグレーション発生点で終了

トリガーモード:マイグレーション発生閾値で開始、終了閾値で試験終了
タイムモード : マイグレーション発生閾値、終了閾値で発生回数をカウント(最大50回)

電源AC100V 50/60Hz 約1500VA/ラック(64CH)パソコンは除く
ユニット外形寸法(突起部除く) W430×D550×H635mm
質量 約85kg(64CH)