絶縁劣化評価試験器

HiPー1000/n

絶縁劣化評価試験器 HiPー1000/n

特長

特長1

MIGシリーズと同じ測定方式。IMVの最大の特長である1CH/1電源/1計測回路方式及び二重構造アクティブガードケーブルを採用し、高電圧印加を実現しました。

特長2

高電圧印加のため、誤作動防止のインターロックを装備。
インターロックを装備することにより、人為的なミスを防ぎます。

特長3

最大256CHまで増設可能。（1筐体：64CH） 1000V、500V印加でありながら、最大256CHまで増設可能です。

仕様

モデル HiP-1000/ｎ HiP-500/ｎ
印加電圧 ＋1000.0V ＋500.0Ｖ
チャンネル数 8ＣＨ～64CH（増設8CH毎）
最大増設可能チャンネル 64CH
絶縁抵抗測定範囲 105Ω～1014Ω
直流電流測定範囲及び測定レンジ 0.1pA～250μA（5測定レンジ）　※固定レンジ・オートレンジ選択可
0.1pA～5ｎA
100pA～500ｎA
1ｎA～5A
10ｎA～50μA
100ｎA～250μA
電流値測定精度
5ｎAレンジ ：±5％±100pA
500ｎAレンジ ：±3％±5ｎA
5μAレンジ ：±2％±10ｎA
50μAレンジ ：±1％±100ｎA
500μAレンジ ：±1％±1μA(最大250μA)
注意）1000Ｖ印加時対レンジフルスケール
5ｎAレンジ ：±5％±100pA
500ｎAレンジ ：±3％±5ｎA
5μAレンジ ：±2％±10ｎA
50μAレンジ ：±1％±100ｎA
500μAレンジ ：±1％±1μA（最大250μA）
注意）500Ｖ印加時対レンジフルスケール
バイアス印加方法 チャンネル独立バイアス方式（１パワーサプライ→1ＣＨ）
バイアス印加電圧設定
（0.1V単位任意）		 ＋1.0Ｖ～＋999.9Ｖ(グループ［8CH］単位) ＋1.0Ｖ～＋500.0Ｖ(グループ［8CH］単位)
バイアス印加電圧レンジ 1000Ｖ 500V
バイアス印加アンプ オペアンプ方式
出力ノイズ：最大±5ｍＶ
高圧アンプ安定化電源として直列型高圧安定化電源を採用
高圧オペアンプによる100μｓｅｃオーダーの高速レスポンス
バイアス印加電圧精度 ±（ フルスケールの0.5%±1Ｖ）
バイアス電圧測定精度 ±（ フルスケールの0.5%±1Ｖ）
最大試験可能時間 9，999時間
測定方法 全チャンネルダイレクト測定（メカニカル・リレーは使用していません）
高速16ビットA/Dコンバータ
測定回路 絶縁抵抗方式
電流測定ケーブル 二重構造アクティブガードケーブル
ケーブルオープン検出機能 計測/出力ケーブルのコネクター脱落を検出しアラーム警告
収録データ内容 収録時間・経過時間・抵抗値・電流値・印加電圧・温度/湿度（要チャンバー通信オプション）
パソコン OS：WindowsXP（Windows7対応予定）産業用を推奨
マイグレーション測定モード

エンドモード ： マイグレーション発生点で終了

トリガーモード：マイグレーション発生閾値で開始、終了閾値で試験終了
タイムモード ： マイグレーション発生閾値、終了閾値で発生回数をカウント（最大50回）
電源AC100Ｖ 50/60Hz 約1500VA/ラック（64CH）パソコンは除く
ユニット外形寸法（突起部除く） Ｗ430×Ｄ550×Ｈ635mm
質量 約85kg（64CH）