イオンマイグレーションテスター

イオンマイグレーションテスター MIG-88

絶縁劣化を傾向測定で事前にキャッチ!!
通常のマイグレーション試験は絶縁抵抗測定が一般的ですがIMVは誘電正接(tanδ)の同時測定を可能にし、一歩先のマイグレーション試験を提案します。

イオンマイグレーションテスター MIG-88

特長

  • 静電容量の変化を計測することにより、サンプルの劣化具合を早期に把握することができます。
  • マイグレーションテスターの特長も継承し、絶縁抵抗計測も可能です。

ハード仕様

全般 チャンネル数 最大16チャンネル
印加バイアス 1~80V
計測パラメータ設定 R計測 C計測(OFF可)
テスト自動中断 MIG判定(R,C,tanδ)/バイアス異常
計測R 抵抗計測範囲

最大10TΩ

電流レンジ Auto/指定
定時データ収録間隔 1分~1440分(24時間)
計測C 容量計測範囲 5pF~50μF(デフォルト設定時)
オートゼロ調整 本体、ケーブル容量キャンセル
アペレ―ジング

弱/標準/強

定時データ収録間隔 5分~1440(24時間)
MIG判定R
判定モード

Time/Trigger/End

判定レベル指定

チャンネル個別(Ω)

MIG判定C 判定パラメータ選択 tanδ/C
判定レベル指定 チャンネル個別(δ,C)

ソフト仕様

表示内容 グラフ表示 抵抗値R/誘導正接tanδ/容量C(Y軸:対数、リニア)
テキスト表示 抵抗値R/誘導正接tanδ/容量C/電流値A/MIG履歴
データ出力 CSVファイルの出力 抵抗値R/誘導正接tanδ/容量Cの時系列データ出力
通信機能 MIG-88の制御

USB通信による計測の制御(最大3 2CH)、データ受信等

チャンバーの制御

RS-232C通信によるチャンバー連動運転、データ収録

開発仕様のため、製品仕様とは異なることがあります