マイグレーションテスター

ハイサイドマイグレーションテスター MIG-9000

1ch/1電源/1計測回路をマイグレーションテスターに初めて採用したIMVがお送りする絶縁評価技術の集大成「MIG シリーズ」の第2弾！！多層基板・部品内蔵基板の層間、内蔵キャパシタ等の絶縁評価には「真のハイサイドマイグレーション」テスターが必須です。

ハイサイドマイグレーションテスター　MIG-9000

ハイサイド型 ローサイド型

特長

  • ハイサイド測定の基本であるオープンケルビン検知をハイサイド側・リターン側共に全ch標準装備
  • 測定データの保存にメモリカードを採用
  • 小型ディスプレイ搭載！！ホストＰＣが無くても動作状態、異常内容を表示可能
  • Ｉ／Ｆ試験槽のインターロック、温・湿度の電流入力を標準装備
  • Cx、tanδ測定もオプションボードで対応可能

MIG-9000 特長

ハード仕様

モデル MIG-9000
印加電圧 +1.00V ～ +29.99Ｖ（0.01V単位）
+30.0V ～ +300.0V（0.1V単位）
チャンネル数（ボードあたり） 10Ch
最大増設チャンネル

300CH
絶縁抵抗測定範囲 105Ω～1014Ω（100V印加時）
直流電流測定範囲
及び測定レンジ		 0.1pA～500μA（6測定レンジ）
※固定レンジ・オートレンジ選択可
（0.1pA～5nA/10pA～50nA/100pA～500nA/1nA～5μA/10nA～50μA/100nA～500μA）
電流値測定精度
100V印加時
対レンジフルスケール		 5nAレンジ：±5％±100pA
50nAレンジ：±5％±1nA
500nAレンジ：±2％±5nA
5μAレンジ：±1％±10nA
50μAレンジ：±0.5％±0.1μA
500μAレンジ：±0.5％±1μA
バイアス印加方法 チャンネル独立バイアス方式（1パワーサプライ→1CH)
バイアス印加電圧設定 +1.00V ～ +29.99V 任意設定（5チャンネル/グループ単位）
+30.0V ～ +300.0V 任意設定（5チャンネル/グループ単位）
バイアス印加アンプ オペアンプ方式
出力ノイズ：最大±5mv
高圧アンプ安定化電源として直列型高圧安定化電源を採用
高圧オペアンプによる100μsecオーダーの高速レスポンス
バイアス印加電圧精度 ±（フルスケールの0.3%＋0.5V）
バイアス電圧測定精度 ±（フルスケールの0.3%＋0.5V）
最大試験可能時間 9,999時間
測定方法 全チャンネルダイレクト測定（メカニカル・リレーは不使用）、
高速16ビットA/Dコンバータ（各CH)
測定回路 絶縁抵抗方式（Highサイド電流計測）
電流測定ケーブル 二重構造アクティブガードケーブル
ケーブルオープン検知機能 計測/出力ケーブルのコネクター脱落を検知しアラーム警告
収録データ内容 収録時間・経過時間・抵抗値・印加電圧
温度/湿度（要チャンバー通信オプション）
パソコン OS:Windows XP,Windows7 産業用を推奨
マイグレーション測定モード エンドモード：マイグレーション発生点で終了。
トリガーモード：マイグレーション発生閾値で開始、終了閾値で試験終了
タイムモード：マイグレーション発生闘値、終了闘値で発生回数をカウント（数値指定999回、無限回）
検出モード：最高速でマイグレーションを検地します。
アナログI/F 4-20mA、0-5V:各2CH
電源 AC100V　50/60Hz　約100VA/ラック（50CH)
収納ユニット外形寸法 W430×D550×H349mm
質量 約25kg/ラック（50CH）

※MIG-8600Bの機能も継承しています。［二重構造アクティブガードケーブル］［印加電圧のモニタリング］